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GLS通用器件老化测试系统

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GLS通用器件老化测试系统
  • 主要从事各类IC编程器研发、烧录机、烧录器、自动烧录机、芯片自动烧录机

▲每个系统更多DUT:

更大的BIB- (670mmX440mm),单板共有276个金手指接触点,最大输入电流:55A

★单板可测试75个元器件

★更多BIB-高达12

▲更多Socket(每个BIB最多75个);

▲功率更大650W至1200W每个BIB;

▲更好的分庭:

★更高的功耗-高达36 KW

★更好的气流和温度均匀性

★空气和水系统冷却选项

★系统占地面积小,无需侧面访问

▲更大的灵活性-更好的加载,更高的投资回报率:

★最多可同时在同一个系统中运多个不同程序配置

★真引脚测试仪体系结构(定时、格式化、三态、电压)

★15 Mhz数据速率

★采用单独Socket或VTR技术的独立器件温度控制



系统参数

规格名称单柜老化系统
测试板数量1-12
电网要求AC220V,10KW~15KW
基本功能

●漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定;

●试验参数(IH、Im、ton/toff、times)设置; 

●参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj)上限设定 ;

●实时监测显示老化参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj、Times)及循环次数; 

●绘制VCE变化曲线,并判断变化率 ·测试结壳热阻Rjc绘制变化曲线,并判断变

上位机工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标
软件

●支持本地数据和数据上传,支持MES对接;

●支持在线编辑测试程序;

●支持软件三级权限管理和多账号管理;

规格尺寸750X900X850
重量约500Kg

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