▲多个老化板（BIB）输入和输出；

▲为芯片老化板添加老化测试芯片，或者是将测试后的芯片按照测试要求分类去包装；

▲主要结构有：老化板升降结构，老化板运送机构，芯片抓取搬运机构，不同方式的芯片 供料和收料机构组成，老化测试座支持Cover和OpenTop两种方式；

▲支持进出料方式：可盘装进料管装出料，盘装进料盘装出料，管装进料盘装出料，管装 进料管装出料，可卷带进料盘装管装出料，盘装和管装进料卷带出料;

▲进口核心主部件，龙门式架构，精密部件硬度氧化铸造处理，持久耐用更稳定，配置五 个吸取料真空吸嘴，使用直线电机驱动，精度高，速度快。

系统参数